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高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板,F2923 為二維 CMOS X 射線平板探測器，具有高分辨率、 低噪聲、大面陣、高幀率和寬動態范圍等特點。綜合應用派登斯的 CMOS 圖像傳感器設計技術及 ADC 集成一體化方案，產品結構緊湊，技術性能優良。基于其可靠性高、 易于集成等特點，可有效降低在苛刻環境中、重負荷應用下 對成像系統的校準和維護要求。

OmniScan SX便攜式探傷儀存儲裝置SDHC卡，或大多數標準USB存儲設備*數字化頻率100 MHz100 MHz *為了獲得好結果，建議使用Lexar®存儲卡。

便攜式探傷儀IP評級根據IEC 60529-2004標準（外殼防護等級–IP規范），儀器設計符合侵入保護評級標準：IP67（防塵且可短時浸入水中）和IP65 （防塵且可經受水噴）。

OmniScan MX2相控陣探傷儀電池數量1節或2節電池（電池艙內可容納兩個熱插拔電池）。

相控陣探傷儀UT通道：8個低通、6個帶通和4個高通濾波器（當配置為TOFD時，為3個低通濾波器）

NORTEC 600便攜式渦流探傷儀濾波FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調）、中值濾波器（在2點～200點之間變化）、平均濾波器（在2點～200點之間變化 ）

MultiScan MS5800便攜式渦流探傷儀所支持的探頭支持所有帶單勵磁器、雙勵磁器、雙拾波器，以及使用近場技術和漏磁技術的差分式和式探頭。（可能需要適配器線纜）

便攜式渦流探傷儀采集速率1 Hz～15 kHz（單線圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過多路激發模式的延遲設定所限制。